近年來(lái)，越來(lái)越多的零部件廠商導(dǎo)入清潔度檢測(cè)設(shè)備，由于操作人員普遍缺乏規(guī)范操作的培訓(xùn)或?qū)η鍧嵍葘?shí)驗(yàn)比較陌生，通常的做法是按照上游廠商提供的操作規(guī)范來(lái)執(zhí)行。如果上游廠商也缺乏相應(yīng)的規(guī)范或作業(yè)指導(dǎo)，實(shí)驗(yàn)如何開(kāi)展則比較困惑。

其實(shí)在ISO16232和VDA19標(biāo)準(zhǔn)中有參考清潔度試驗(yàn)項(xiàng)目——衰減實(shí)驗(yàn)（遞減實(shí)驗(yàn)），該實(shí)驗(yàn)提供了可操作性強(qiáng)的流程來(lái)確定顆粒萃取方法是否合適。簡(jiǎn)單描述如下：

1.選擇一組萃取參數(shù)，針對(duì)同一個(gè)零部件依次進(jìn)行六次萃取，記錄每次的清潔度數(shù)據(jù)。

2.在某一次數(shù)據(jù)與之前數(shù)據(jù)總和的比值低于10%時(shí)（顆粒總數(shù)和重量），則證明萃取參數(shù)是合理的。

3.六次實(shí)驗(yàn)結(jié)束，數(shù)據(jù)依然無(wú)法滿足比值10%要求，則需要變更萃取參數(shù)，重復(fù)實(shí)驗(yàn)。

4.最后獲得的參數(shù)，還需經(jīng)過(guò)重復(fù)驗(yàn)證測(cè)試，才能納入清洗工藝參數(shù)。

以某零部件為例簡(jiǎn)單介紹衰減實(shí)驗(yàn)流程：

實(shí)驗(yàn)中使用到的設(shè)備：清潔度萃取設(shè)備、清潔度分析顯微鏡、天平、烘箱等。

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

以某零部件采用重量分析法為例（數(shù)據(jù)如上圖），每次采用1L清洗劑進(jìn)行對(duì)同一零部件進(jìn)行沖洗，可以看到在進(jìn)行第四次萃取時(shí)數(shù)據(jù)滿足衰減標(biāo)準(zhǔn)≤10%原則，說(shuō)明該零部件需要用(n-1)*1L=3L清洗量來(lái)進(jìn)行殘留顆粒萃取時(shí)合理的。同樣的方式也適用于顆粒計(jì)數(shù)分級(jí)。